研究開発
新たなる価値を求め、未知なる素材の研究・開発に努めて
微量分析技術 半導体の微細化に伴うクリーン度要求の厳格化に対応するため、多角的に分析（無機・有機ともに）できる体制の構築を進めています。 |
3D CADによる設計 基本的な構造解析と設計をシームレスに行い、よりスピーディーな製品の設計・提案につなげています。 |
半導体・液晶製造装置用実験設備 半導体市場で過酷な使用条件での性能評価試験を行うために、高温・低温を繰り返すことができる熱サイクル試験装置を保有しています。 | |||||||||||||||||
故障予知に向けたデータ収集・分析試験装置 メカニカルシールの故障予知技術の確立を目的として、故障発生モードも含めた運転条件下における、圧力・温度・トルク・振動などのデータを収集・分析するための試験装置です。 |
バルブ用低温試験装置 低温環境下（-150～0℃）におけるバルブ用グランドパッキンのシール特性、摺動特性、応力緩和特性などのデータを収集するための試験装置です。低温環境下に適したグランドパッキンの開発に活用しています。 |
1000kN万能試験装置 製品・材料を高精度に荷重管理しつつ、シール・圧縮・引張試験ができる装置です。24時間連続運転が可能であり、経時変化を連続データで取得することができます。 | |||||||||||||||||
